DRK8090 Photoelectric Profiler

Cov cuab yeej no txais kev sib cuag tsis sib cuag, kho qhov muag theem-hloov interferometric ntsuas txoj kev, tsis ua rau lub ntsej muag ntawm lub workpiece thaum ntsuas, tuaj yeem ntsuas cov duab peb-dimensional ntawm qhov chaw micro-topography ntawm ntau yam workpieces, thiab tshuaj xyuas thiab ntsuas qhov ntsuas. tshwm sim.

Product Description
Nta: Haum rau kev ntsuas qhov roughness ntawm ntau qhov ntsuas qhov ntsuas thiab qhov chaw kho qhov muag; qhov tob ntawm lub reticle ntawm tus pas ntsuas thiab lub dial; lub thickness ntawm txheej ntawm grating groove qauv thiab cov qauv morphology ntawm txheej ciam teb; qhov saum npoo ntawm cov hlau nplaum (optical) disk thiab lub taub hau sib nqus Cov qauv ntsuas; silicon wafer nto roughness thiab qauv qauv ntsuas, thiab lwm yam.
Vim qhov kev ntsuas qhov tseeb ntawm qhov ntsuas, nws muaj cov yam ntxwv ntawm kev tsis sib cuag thiab kev ntsuas peb-dimensional, thiab tau txais kev tswj xyuas lub computer thiab kev soj ntsuam ceev thiab kev ntsuas kev ntsuas. Cov cuab yeej no tsim nyog rau txhua theem ntawm kev sim thiab ntsuas kev tshawb fawb units, kev lag luam thiab mining enterprise ntsuas chav, precision processing rhiav, thiab kuj haum rau Institutions ntawm kev kawm siab dua thiab kev tshawb fawb cov tsev, thiab lwm yam.
Lub ntsiab technical parameters
Kev ntsuas ntau ntawm qhov chaw microscopic unevenness qhov tob
Nyob rau saum npoo tsis tu ncua, thaum tsis muaj qhov siab hloov pauv sai dua 1/4 wavelength ntawm ob lub pixels uas nyob ib sab: 1000-1nm
Thaum muaj qhov siab hloov pauv ntau dua 1/4 ntawm lub wavelength ntawm ob lub pixels uas nyob ib sab: 130-1nm
Repeatability ntawm kev ntsuas: δRa ≤0.5nm
Lub hom phiaj lens magnification: 40X
Tus lej aperture: Φ 65
Ua haujlwm nrug: 0.5mm
Qhov ntsuas qhov pom qhov pom: Φ0.25mm
Yees duab: 0.13 × 0.13mm
Qhov ntsuas qhov ntsuas qhov pom: 500 ×
Yees duab (saib hauv computer screen)-2500 ×
Txais kev ntsuas array: 1000X1000
Pixel Loj: 5.2 × 5.2µm
Kev ntsuas lub sij hawm sampling (scanning) sij hawm: 1S
Cov cuab yeej txheem iav reflectivity (siab): ~ 50%
Reflectance (qis): ～ 4%
Lub teeb qhov chaw: incandescent teeb 6V 5W
Ntsuab cuam tshuam lim wavelength: λ≒530nm
Ib nrab dav λ≒10nm
Main microscope nqa: 110 mm
Lub rooj nqa: 5 mm
Qhov ntau ntawm kev txav hauv X thiab Y kev taw qhia: ~ 10 hli
Kev sib hloov ntau ntawm lub rooj ua haujlwm: 360 °
Tilt ntau ntawm lub rooj ua haujlwm: ± 6 °
Lub khoos phis tawj: P4, 2.8G lossis ntau dua, 17-nti flat-screen zaub nrog 1G lossis ntau dua nco